
恒加速度试验也可用来测定恒加速度对微电子器件的影响,其目的是显示在冲击和振动试验时不一定能检测出的结构和机械的缺陷,也可用作高应力试验来测定封装、内部金属化和引线系统、芯片或封底附着能力及微电子器件其他部件的结构强度极限值。可以说,恒加速度试验是用来考核产品是否满足上面各项要求的一种较科学的、保证试验具有一定再现性的试验加载程序及具体操作方法。
用离心试验机进行恒加速度试验时,不可避免要带来方法误差。为了保证试验的再现性,X标准GB/T2423.15中规定了恒加速度数值的容差限为-10%~+30%,即试验样品上所有点实际承受的加速度小不能小于90%规定的试验加速度数值。试验时实际承受加速度点不能X过130%规定的试验加速度数值。